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            產品名稱:

            紫外可見近紅外光譜儀

            發布日期: 2023-10-16
            訪問量: 745
            紫外可見近紅外光譜儀GL Spectis 4.0的可用光譜工作范圍從200nm開始,直至1050nm。專用的熱調節功能可在高達35C的不同應用溫度下穩定讀數。由于進行了正確的校準,因此絕對UV光譜值不受雜散光的影響。
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            紫外可見近紅外光譜儀

            GL Spectis 4.0的可用光譜工作范圍從200nm開始,直***1050nm。專用的熱調節功能可在高達35°C的不同應用溫度下穩定讀數。由于進行了正確的校準,因此**UV光譜值不受雜散光的影響。波長和線性校正使用光具座進行驗證。**讀數與黑體輻射標準吻合,并用氘燈檢查紫外線范圍是否短。 

            GL Spectis 4.0光學照度計具有Hamamatsu的大型實驗室級背薄CCD傳感器,可在更長的曝光時間內提供出色的穩定性。使用參考標準對設備進行校準,該參考標準可追溯到國家實驗室,并通過全球認可的工廠校準進行確認。電子暗電流水平通過智能補償自動監控,以補償由于溫度波動引起的任何漂移。

            GL Spectis 4.0 USB光譜儀具有新的光子學解決方案,可在各種應用中進行精確的光質量控制。對于實驗室或生產中苛刻的測量應用,這款經過校準的光譜儀是理想的解決方案。只需將其連接到PC,即可在必須測量光線或任何其他光輻射的實驗室,生產場所或其他工業場所使用。

            借助Spectis 4.0的通用設計,您可以輕松構建專用的測量系統。通過添加我們的任何光學探頭,該儀器可以使用標準漫射器或光纖探頭測量輻照度。連接到積分球時,可以測量總光通量和輻射功率。當與亮度/輻射率伸縮式探頭結合使用時,可以獲得對光輻射危害和質量的專門評估。

            這款光譜輻射儀非常適合LED測量,因此可以與我們的任何積分球和測角儀系統配對使用,以根據CIE 127:2007和CIE 025 / E:2015進行預先測量。高精度和高分辨率使其成為確認(IES)LM-79-08和其他國際標準的理想測量儀器。

            GL Spectis 4.0光譜儀已針對苛刻的測試和測量進行了優化,并且始終如一地提供與許多昂貴和復雜的計量儀器相當的精度。雜散光抑制系統和自動溫度補償有助于實現精確的結果。


            紫外可見近紅外光譜儀 系統功能

            擴展光譜范圍

            Spectis 4.0光譜輻射儀具有200***1050nm的寬波長范圍,可以根據許多標準進行測量,包括光生物學安全性(EN 62471)或SSL產品的測量(IESNA LM-79-08)。

            光度和輻射度校準

            交付之前,**光譜校準已集成到每個光譜儀中。根據所安裝的測量附件,它可以精確測量不同的**值(例如勒克斯,坎德拉或流明)以及輻射值。

            暗電流補償

            盡管它不是冷卻的檢測儀,但GL Spectis 4.0光譜儀仍可在不同條件下提供非常精確的測量。電子板上安裝的溫度傳感器監視溫度變化,并自動補償暗電流水平的任何變化,從而提供出色的測量穩定性。

            提供多種積分球和探針

            借助Spectis 5.0 Touch的通用概念和設計,您可以通過添加我們的任何積分球或其他附件來輕松擴展測量系統。


            系統指標

            Lux/勒克斯–輻照度

            Lumen/流明–光通量

            CRI –顯色指數(符合標準CIE)

            CCT –色溫(符合標準CIE)

            顏色–色度坐標(CIE 1931和CIE 1964)

            保真度和色域–根據TM-30 IES標準評估光源色彩還原的方法

            PAR / PPFD –光合有效輻射測量(園藝)

            EML –等值黑視素勒克斯/等值黑視素照度

            mWatt –輻射能


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